瓷介电容器所采用的大多数2类陶瓷介质，都具有铁电特性并呈现出一个居里温度特性。介质在这个温度以上具有高度对称的立方晶体结构，而低于居里温度时，立方晶体结构的对称性就降低。即使在单晶体内这种状态的转变也是很明显的。在实际陶瓷中通常陶瓷中通常被扩大到一个有限的温度范围之内，但在所有的情况下，它是电容量/温度曲线上的某一个峰值。
在热波动的影响下，介质冷却至居里温度之后的很长一段时间内，晶体点阵中的离子会连续运动到势能较小的位置，这就引起了电容量老化现象。从此瓷介电容器的电容量不断的减小。
如果将电容器加热至高于居里温度的某一温度，则就会起到消除老化的作用，即通过老化而使电容量减少的部分恢复，而在电容器再次冷却时，会重新开始老化。
瓷介电容电容量的老化规律
从冷却至居里温度之后的第1小时内，电容量的减少是不好确定的。但从这时间之后它按对常规律减少（见K,Wplessner,phys.soc.vol.69B,p1261,1956），这个规律可用一个老化常数表示。
老化常数K用介质老化的过程中引起的电容量减少的百分比来表示。其介质的老化过程是以“十倍”的变化方式进行的，即使在某一个时间内，例如1h到10h，瓷介电容器的老化增加十倍。由于电容量减少的规律承对数的，在1h到100h之间老化，则电容量减少的百分比将是在2K,在1h到1000h之间老化是3K。
瓷介电容电容量老化以及规律
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